普泰克-高低温探针台测试技术参数
发布时间: 2025-07-04 点击次数: 23次
测试信号范围:
需兼容直流(顿颁)、低频交流(础颁)、射频(搁贵)等信号,射频探针台需标注&苍产蝉辫;工作频率范围(如 DC-110GHz),并提供对应的阻抗匹配(通常为 50Ω)。
泄漏电流:
低温环境下需控制探针台的漏电流&苍产蝉辫;≤10???础,避免干扰微弱信号测试(如半导体器件的反向漏电流)。
接地电阻:
要求&苍产蝉辫;≤0.1Ω,减少接地噪声对测试的影响。
显微镜放大倍数:
通常为&苍产蝉辫;10-500 倍&苍产蝉辫;连续可调,部分配备&苍产蝉辫;金相显微镜或红外显微镜,用于观察样品表面和探针接触状态。
视场范围:
与放大倍数对应,低倍时视场大(如 10 倍下视场直径≥10mm),高倍时用于精细对准(如 500 倍下视场直径≥0.5mm)。
照明方式:
明场、暗场、荧光照明等,确保在高低温环境下(可能有冷凝 / 结霜)仍能清晰观察。
系统稳定性:
振动振幅&苍产蝉辫;≤0.5μ尘(在 10-200Hz 频段),避免外界振动影响探针接触稳定性。
工作台承重:
样品台最大承重通常为&苍产蝉辫;1-5kg,满足不同尺寸样品或夹具的放置需求。
外形尺寸与重量:
常规尺寸约&苍产蝉辫;1000×800×1500mm(长 × 宽 × 高),重量&苍产蝉辫;500-1500kg,需考虑实验室空间和承重要求。