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普泰克-半导体芯片温度测试维修保养

发布时间: 2025-07-04  点击次数: 42次

叁、测试设备维修保养

1. 高低温探针台保养

  • 日常保养
    • 探针:每次使用后用无水乙醇擦拭探针针尖,去除氧化层和污染物,避免针尖磨损或接触不良;定期检查探针臂张力,防止变形。

    • 样品台:清洁表面污渍(用软布蘸异丙醇),检查导热涂层(如镀金层)是否脱落,脱落需重新镀膜以保证温度均匀性。

    • 温度控制系统:每周检查制冷 / 加热管路(如液氮管道)是否泄漏,加热丝是否老化;每月校准温度传感器(用标准温度计对比)。

  • 定期维护(每 6-12 个月)
    • 校准温度稳定性:用精密测温仪(如 FLUKE 5520A)在关键温度点(如 - 40℃、25℃、125℃)验证波动是否≤±0.1℃。

    • 真空 / 气氛系统:检查真空泵油位,更换老化密封圈,确保真空度达标(≤10??Pa),避免低温下样品结霜。

2. 红外热像仪保养

  • 镜头维护:用专用镜头纸蘸镜头清洁剂擦拭,避免指纹或灰尘影响成像;长期不用时盖好镜头盖。

  • 传感器校准:每年送厂校准,确保测温精度(可通过黑体炉在 - 50~300℃范围内验证)。

  • 电池与存储:锂电池需定期充放电(每月 1 次),避免长期亏电;存储环境需干燥(湿度≤60%)、无腐蚀性气体。

3. 热电偶 / 热电阻保养

  • 检查接线端子是否松动或氧化(氧化会导致接触电阻增大,误差增加),定期用细砂纸打磨并涂抹导电膏。

  • 发现热电偶丝破损、绝缘层老化时及时更换(尤其是高温下使用的 K 型热电偶,寿命约 1000 小时)。